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J75不锈钢淬火应力的X射线衍射分析
          
Stress Analysis of J75 Stainless Steel Aftrer Quenching by X-ray Diffraction

摘    要
利用铬靶X射线在侧倾结合固定ψ法基础上对J75不锈钢的(311)面进行了淬火应力测量,得到了不同淬火温度下J75合金试样中心点的残余应力值和近表面微应变效应。结果表明:试样表面残余压应力值在-400~-650 MPa,最大值出现在淬火温度为700℃左右;淬火使衍射峰半高宽由1.25°增加至1.4°以上,显著增加了J75合金的位错等缺陷。受淬火瞬时热应力分布影响,越靠近试样表面衍射峰的宽化越严重。
标    签 J75不锈钢   X射线衍射   残余应力   J75 stainless steel   X-ray diffraction   residual stress   diffraction line broadening  
 
Abstract
Based on the side tilt and fix ψ method,the (311) plane of quenched J75 stainless steel was measured by X-ray diffraction. The residual stress and micro-strain effects of J75 stainless steel surface center in different quenching temperatures were determined. The measurement results showed that the compressed residual stress in the sample surface was between -400 MPa and -650 MPa,the maximal value appeared when quenching temperature was about 700℃. The quenching also causeed the increase of FWHM of diffraction peaks from 1.25°to above 1.4°,so a lot of dislocations and other defect developed and according to the instantaneous heat stress distribution,the nearer the surface was,the larger the diffraction line broadening was.

中图分类号 TG115.22+2.2

 
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所属栏目 试验技术与方法

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收稿日期 2007/12/5

修改稿日期

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备注孙光爱(1980-),男,助理研究员,博士研究生。

引用该论文: SUN Guang-ai,CHEN Bo,WU Er-dong,LI Xiu-yan. Stress Analysis of J75 Stainless Steel Aftrer Quenching by X-ray Diffraction[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2009, 45(2): 89~93
孙光爱,陈波,吴二冬,李秀艳. J75不锈钢淬火应力的X射线衍射分析[J]. 理化检验-物理分册, 2009, 45(2): 89~93


被引情况:


【1】王颖,胡小军,张荣,李丽敏, "X射线衍射法测试轧板表面残余应力",理化检验-物理分册 48, 302-305(2012)



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参考文献
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